随着电子产品向小型化、高密度化方向发展，电子元件对封装材料的应力敏感性日益增加。低应力环氧胶技术作为解决电子元件开裂难题的关键，已成为电子封装材料研发的重点方向。本文将深入分析低应力环氧胶的技术原理、实现途径和应用价值。一、电子元件开裂的应力来源电子元件在封装和使用过程中面临多种应力：热应力：环氧胶与芯片、基板的热膨胀系数（CTE）不匹配，在温度循环中产生热应力。典型环氧胶CTE为50-80ppm